Presentasi sedang didownload. Silahkan tunggu

Presentasi sedang didownload. Silahkan tunggu

UJI KESESUAIAN SISTEM (SYSTEM SUITABILITY TEST) Rehana, Selasa 20 Mei 2014.

Presentasi serupa


Presentasi berjudul: "UJI KESESUAIAN SISTEM (SYSTEM SUITABILITY TEST) Rehana, Selasa 20 Mei 2014."— Transcript presentasi:

1 UJI KESESUAIAN SISTEM (SYSTEM SUITABILITY TEST) Rehana, Selasa 20 Mei 2014

2

3

4 Kromatografi Kolom Pompa Fase gerak Detektor Sistem elektronik Analit

5 Parameter Yang Dinilai Faktor kapasitas Presisi Retensi relatif Resolusi Faktor ikutan (Tailing Factor) Jumlah lempeng teoritis

6 Faktor Kapasitas (k’) Faktor kapasitas memastikan bahwa peak yang diharapkan tidak mengganggu volume kosong. Setiap peak harus terpisah dari peak yang lain dan voume kosong. Nilai faktor kapasitas sebaiknya > 2

7

8 Wx : lebar peak pada ketinggian 5% dari dasar peak f : jarak muka peak pada ketinggian 5% dari dasar peak terhadap puncak peak t 0 : waktu elusi volume kosong t r : waktu retensi analit t w : lebar dasar peak disebelahnya

9 presisi Injection repeatability Parameter ; RSD RSD 5

10 Retensi relatif (  ) Untuk membandingkan letak peak analit dengan standar  = k’/k’ std %

11 Resolusi Mengukur keterpisahan dua puncak Rs = 2(t R2 – t R1 )/(W 2 +W 1 ) Rs > 2

12 Faktor Ikutan (Tailing factor) Untuk menguji kesimetrisan kromatogram (peak) T = W/2f T < 2

13 Jumlah Lempeng Teoritis N = 16 (t R / t W ) 2 N > 2000


Download ppt "UJI KESESUAIAN SISTEM (SYSTEM SUITABILITY TEST) Rehana, Selasa 20 Mei 2014."

Presentasi serupa


Iklan oleh Google