TES INTELIGENSI STANFORD BINET

Presentasi berjudul: "TES INTELIGENSI STANFORD BINET"— Transcript presentasi:

1 TES INTELIGENSI STANFORD BINET
Oleh : Mariyana Widiastuti, M.Psi., Psi.

2 PENDAHULUAN Nama lengkap Tes Binet adalah Stanford Binet Intelligence Scale Form L-M. Tes ini dipublikasikan pd thn 1960 oleh Terman dan Merrill, staf pengajar di Universitas Stanford, California, USA. Tes ini diterjemahkan ke dlm Bahasa Indonesia dan konteksnya disesuaikan dg kondisi di Indonesia, kemudian lbh dikenal dg nama Tes Binet. Stanford Binet Intelligence Scale Form L-M yg disusun oleh Terman dan Merrill thn 1960 telah mengalami perkembangan.

3 SEJARAH TES INTELIGENSI STANFORD BINET
Tes inteligensi yg pertama sekali dipublikasikan adalah Tes Binet-Simon yaitu pd thn 1905 di Paris (Prancis). Tes ini disusun oleh ALFRED BINET, dibantu oleh THEODORE SIMON shg disebut Tes Binet-Simon. Digunakannya Tes Binet-Simon pd wkt itu krn dorongan pemerintah Prancis yg merasa rugi dg biaya pendidikan anak-anak Sekolah Dasar. Pemerintah ingin memisahkan pendidikan anak yg cerdas & yg kurang cerdas agar proses belajar di sekolah lancar.

4 EVOLUSI Binet mendapat tugas dari pemerintah Perancis Terbit skala Binet yang terdiri 30 item Terbit hasil revisi bersama Theodore Simon Ada pembatasan usia subjek Ada pengelompokan item Perluasan proses mental yang diukur Diterapkan konsepsi usia mental Terbit revisi pertama Skala Binet-Simon Penempatan item diperbaiki  sampel lebih representatif Perhitungan usia mental lebih rinci Terbit revisi dari Stanford University Mempertahankan karakteristik Binet-Simon Item diperbaiki - dipindah – digugurkan - ditambah Konsep I.Q. rasio diterapkan Disediakan instruksi administrasi & skoring Sampel standardisasi 1000 anak dewasa

5 Cont’d & 1923 Terbit revisi I Stanford-Binet bersama Merrill Aktivitas mental diperluas Disediakan 2 bentuk yg paralel: Form L dan Form M Restandardisasi dengan sampel yang lebih banyak (100: I-6 – V-6; 200: VI – XIV; 100: XIV – XVIII) Terbit revisi II Stanford-Binet Intelligence Scale Form L dan form M digabung: Form L-M Sampel untuk analisis item dikelompokkan berdasarkan MA Disediakan tes pengganti Tidak dilakukan restandardisasi Terbit revisi III Stanford-Binet Intelligence Scale Bentuk skala tidak berubah Restandardisasi dengan sampel yang lebih representatif (± orang) Terbit revisi dari Yerkes Item dikelompokkan dalam bentuk subtes

6 FAKTOR KECERDASAN YANG DIUKUR (Robert E. Valett)
General Comprehension Visual-motor Ability Arithmetic reasoning Memory & Concentration Vocabulary & Verbal Fluency Judgement & Reasoning

7 PENYAJIAN TES STANFORD BINET
Penyajian Tes Stanford-Binet Bentuk L-M Prosedur penyajian tepat seperti penyusunan norma

8 KONDISI YANG MENENTUKAN TES VALID ATAU TIDAK
Mengikuti prosedur standard. Usaha subjek /testee yang maksimal harus diciptakan melalui rapport yang baik/memadai. Jawaban atau respon diskor secara tepat dan segera.

9 PRINSIP UMUM PELAKSANAAN
Mengawali Tes  Normanya dimulai dr 1 tingkat di bawah CA (Chronological Age). Tidak Semua Item Disajikan  mencari “Umur Basal” s.d. “Umur Ceiling”. Pertanyaan yang dapat diulang adalah pertanyaan yang bukan mengungkap ingatan (non memory). Melakukan inquary thd jawaban yg meragukan. Menghindari “Halo Effect” dg menguasai skoring. Urutan dalam menyajikan tes persis seperti manual dan record booklet.

10 UMUR BASAL Jumlah soal dalam tingkat tertentu dimana testee/subjek dapat menjawab semua dengan benar atau mendapat skor (+) tepat sebelum kelompok umur dimana kegagalan pertama terjadi.

11 UMUR CEILING Jumlah soal dalam tingkat umur tertentu dimana testee/subjek gagal menjawab semua dengan benar atau mendapat skor (-) sesudah keberhasilan terakhir.

12 HAL-HAL YANG HARUS DIPERHATIKAN SELAMA PENYAJIAN
Memelihara rapport untuk menjaga keberanian dan rasa percaya diri anak. Untuk anak-anak prasekolah sebaiknya : tempat duduk dan meja disesuaikan, kondisi ruangan dibuat senyaman mungkin, kehadiran significant person. Penggunaan bahan-bahan tes. Lama tes + 1 jam (kondisi normal).

13 Cont’d Mempertahankan kondisi standar testing,yaitu:
Sebaiknya sesuai manual, tidak perlu hafal, petunjuk instruksi harus selalu ada. Jawaban dicatat kata demi kata, persis seperti yang dikatakan subjek/testee. Diskor saat itu juga: Berhasil/Benar (+) Gagal/Salah (-) Ragu-ragu (Q) Tes pengganti disajikan: Terjadi kesalahan pada tester Ada alat yang hilang Kondisi-kondisi khusus testee

14 Cont’d Melakukan Observasi
Pemahaman subjek/ testee secara umum terhadap instruksi tes yang diberikan Kemampuan konsentrasi Tingkat aktivitas (pasif, aktif, hiperaktif). Kepercayaan diri Ketekunan atau motivasi Dll. Tes yang disingkat (6 soal tidak diberikan semua) Menghitung MA (Mental Age) Menentukan IQ (Tabel IQ)

15 Rumus Mencari MA (Mental Age)
Umur Basal + jumlah kredit atau keberhasilan yang dicapai antara umur basal sampai dengan umur ceiling.

16 Rumus Mencari CA (Chronological Age)
Tahun Bulan Tanggal Tanggal Tes : ……… ……… ……… Tanggal Lahir : ……… ……… ……… ……… ……… ………

17 CATATAN 1 tahun = 12 bulan 1 bulan = 30 hari
Menganut sistem pembulatan, yaitu: Sampai dengan 15 hari dibulatkan ke bawah/diabaikan Lebih dari 15 hari dibulatkan ke atas