Universitas sultan ageng tirtayasa Peta Kendali GCRL (Generalized Conforming Run Length) untuk Memonitoring Rata-Rata Variabel RESUME JURNAL Kartika mayangsari 3333081578 Teknik industri Universitas sultan ageng tirtayasa
RESUME JURNAL Peta kendali CRL (Conforming Run Length) telah menarik perhatian dalam peningkatan minat penelitian pada bidang SPC (Statistical Process Control). Hal ini menentukan status dasar proses berdasarkan interval atau jarak di antara dua unit nonconforming. Jurnal ini menjelaskan tentang peta kendali GCRL (Generalized Conforming Run Length) untuk memonitor rata-rata dari satu karakteristik mutu terukur x pada 100% inspeksi.
RESUME JURNAL Untuk membuat peta kendali GCRL, masing-masing unit akan diklasifikasikan sebagai passing atau nonpassing unit tergantung dari apakah nilai sampel x berada di dalam atau di luar lower dan upper batas inspeksi LIL dan UIL. Ketika nonpassing unit diperoleh, peta GCRL mengecek jarak antara sekarang dan unit nonpassing terakhir dalam urutan untuk menentukan status proses (terkontrol atau di luar kontrol). Pembatas inspeksi LIL dan UIL ditentukan oleh satu desain optimisasi .
RESUME JURNAL Peta Kendali GCRL tidak hanya menyelesaikan satu dead-corner masalah dari CRL konvensional, tapi juga dengan sangat menunjukkan akhir untuk mendeteksi pergeseran rata-rata. Penemuan yang paling menarik perhatian adalah peta kendali atribut GCRL mengungguli peta kendali variabel X untuk derajat yang penting dalam variabel SPC. Hal itu menunjukkan bahwa peta kendali atribut yang sederhana mungkin menggantikan petakendali variabel dalam beberapa aplikasi SPC. Perancangan peta GCRL harus diselesaikan oleh satu program komputer, tapi desain dapat dilengkapi nyaris cepat sekali pada satu komputer pribadi.
REFERENSI Zhang Wua,*, ZhaoJun Wang, Wei Jiang. 2009. A generalized Conforming Run Length control chart for monitoring the mean of a variable q. a. School of Mechanical and Aerospace Engineering, Nanyang Technological University, Singapore 639798, Singapore b. School of Mathematic Science, Nankai University, 300071, China c. School of Systems and Enterprises, Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ 07030, USA